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新品發(fā)布 | 日立憑借新型XRF儀器FT230掀起鍍層分析改革浪潮
發(fā)布時間：2022-05-09
2022年4月28日，日立高新技術集團旗下的全球性公司日立分析儀器推出了革命性的XRF儀器FT230，擴大了電鍍和鍍層分析范圍。FT230的設計大幅簡化和加快了部件和組件的測試流程，助力電子產品和組件制造商、一般金屬表面處理廠和塑料電鍍廠實現(xiàn)全方位鍍層檢測并符合嚴格的規(guī)范要求。FT230 消除了 XRF 分析的傳統(tǒng)障礙，加快了分析速度并減少了代價高昂的錯誤，以幫助電子和零部件制造商、通用金屬精加工商和塑料電鍍企業(yè)實現(xiàn)全方位檢測并滿足嚴苛的規(guī)范要求。
1.讓XRF成為決策助手
FT230設計的每個方面都旨在減少完成XRF測量所需的時間。目前，操作員在準備測量和處理結果方面所耗的時間要遠遠多于XRF分析零件的時間。通過智能零件識別功能Find My Part™（查找我的樣品），用戶可自動選擇需要測量的部件、分析程序和報告規(guī)則，從而使FT230的用戶體驗（UX）得到極大改善，因此操作員在使用XRF設備方面耗時更少，而將更多時間用于處理分析結果。隨著用戶的工作內容的變化，可輕松快速地對用戶自建機載庫進行擴展，以處理新部件和新程序。
2.智能至簡的新體驗
作為運行日立全新FT Connect軟件的首款產品，F(xiàn)T230延續(xù)了已有軟件SmartLink和X-ray Station的優(yōu)勢，還增加了新的功能，提高了可用性。FT Connect顛覆了傳統(tǒng)的界面。在傳統(tǒng)軟件中，屏幕的大部分空間都被控件所占據——其中許多控件并不常用，而FT Connect將XRF設備的關鍵部分集中顯示在界面上，呈現(xiàn)超大規(guī)模的樣品視圖和清晰的結果，使用戶更容易找到部件來進行分析和查看分析結果。
3.工業(yè)4.0時代的數據處理水平
利用FT Connect靈活的數據處理功能，可按需要得到分析結果。分析結果會顯示在主測量屏幕的醒目位置，方便操作員快速采取行動，同時存儲在機器上供日后查閱。分析結果可以電子表格或綜合JSON格式導出，與CADA、QMS、MES或ERP系統(tǒng)集成。同樣，也可為內部或外部客戶創(chuàng)建定制報告。
4.儀器維護更簡單
除了一系列確認儀器穩(wěn)定性的功能（包括常規(guī)儀器檢查和校準驗證工具）外，機載診斷程序還為用戶提供了更多關于儀器健康狀況的信息。可通過ExTOPE（日立基于云計算的高級數據管理和存儲服務，可讓用戶即時安全地共享數據）直接與日立的技術支持團隊共享此類數據信息。
5.不僅僅包括涂鍍層測量的功能
除了測量涂鍍層的厚度和成分之外，F(xiàn)T230還增加了其他功能。強大的軟件和高分辨率的硅漂移探測器實現(xiàn)了以下功能：（1）篩選部件是否符合受限制材料法規(guī)（如RoHS）的規(guī)定；（2）分析包括電鍍槽溶液和金屬合金在內的材料的成分，對檢驗來料中的基板和確認化學性質（對處理貴金屬的質量證明中心至關重要）非常有用
一次就成功
日立的鍍層分析產品經理Matt Kreiner表示：“FT230從根本上改變了操作員與XRF設備的互動方式。幾十年來，XRF的用戶必須記住或查找生產零件的測量方法，以及決定其應用領域（是電鍍鎳/金還是鎳/鈀/金）、測量位置、焦斑尺寸、測量時間和報告條例的方法。即使有些系統(tǒng)可以通過條形碼或二維碼掃描提供部分信息，用戶依然需要做出相關決定。
而上述決定可能會出現(xiàn)錯誤，這是制造商無法承受的結果。一旦使用FT230，用戶可將部件裝入樣品艙，運行Find My Part™ （查找我的樣品）程序，儀器便會處理余下的工作。日立在FT230中所設計的一切細節(jié)都是為了縮短和簡化XRF設備測量流程中‘設置’這個耗時和復雜的環(huán)節(jié)。此舉能減少錯誤，讓操作員騰出時間執(zhí)行能夠增值的任務，并增加了測試量，因此擁有這款XRF設備的用戶可以實現(xiàn)事半功倍的目標。”
從簡單的涂鍍層到有關超小部件的復雜應用領域，日立推出的全系列分析儀——現(xiàn)在包括FT230——旨在從來料檢驗、過程控制到終端質量控制的整個生產過程中能為部件鍍層提供高置信度的測量結果。
