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高分辨率X射線三維檢測顯微鏡來襲！
發(fā)布時間：2019-04-15
高分辨率X射線三維檢測系統(tǒng)是一種在檢測過程中保持樣品在檢測時不被損壞的一種檢測方式。是工業(yè)、材料、環(huán)境等領域中常見的檢測方法之一，適用于對樣品進行無損檢測、故障分析、過程控制等。
CT-COMPACT nano是一款緊湊的臺式高分辨率X射線三維檢測顯微鏡，采用獨有的探測器技術，滿足各種高應用需求。優(yōu)化對比度，可以改變檢測器距離。對于高放大倍率，可以使用不同的平板探測器，水平定向的X射線束使CT掃描不受重力影響。
廣泛適用于石油、天然氣、汽車、電源、礦石、科學研究等領域。
CT-COMPACT nano
產(chǎn)品特點
◆對大/小樣品進行高分辨率三維X射線成像
◆顯微鏡設計使樣品距離X射線源有大的工作距離情況下具有高分辨率，這是進行原位成像惡化大樣品成像的先決條件
◆對同一個樣品進行多尺度范圍成像，跨越很寬的放大倍率
◆對低原子序數(shù)材料和生物樣品進行高襯度的相位增強成像
◆對樣品進行無損成像，僅需簡單甚至無需樣品制備
◆提供各種原位輔助裝置，對實際大小的樣品（從毫米到數(shù)厘米）進行亞微米成像
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