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應用案例
CASE
對于目前主流顯示面板市場而言，常見的顯示技術包括LCD（液晶顯示）、有機發光二極管顯示（OLED）、電泳顯示、以及新興的Micro LED（微型發光二極管）顯示技術等；各種顯示技術均具有獨特的特點及應用領域。
01 黑暗之主的盔甲：奇跡與疏忽的故事 我們都知道達斯·維達那令人敬畏的形象，這位強大的存在被包裹在一套維持生命的盔甲中，這是在一場悲劇的決斗后，他變得比人類更像機器。然而，在這項技術奇跡的表面之下，隱藏著許多挑戰，包括行動限制、對原力閃電的脆弱性，以及曾經敏捷的阿納金·天行者因笨拙設計而受到的阻礙。
本文介紹了一種配備自動化和可重復的 DIC（微分干涉對比）成像的 6 英寸晶圓檢測顯微鏡，無論用戶的技能水平如何。制造集成電路（IC）芯片和半導體組件需要進行晶圓檢測，以驗證是否存在影響性能的缺陷。這種檢測通常使用光學顯微鏡進行質量控制、故障分析和研發。為了有效地可視化晶圓上結構之間的細微高度差異，可以使用 DIC 。
X-MET8000系列用于快速測量 質子交換膜（PEM）上的Pt和Ir載 量
質子交換膜是未來可持續能源系統的關鍵技術。燃料電池中的質子交 換膜能夠高效地將氫氣轉化為電能，且無有害氣體排放。質子交換膜 燃料電池廣泛用于電解水制氫，質子交換膜在氫能產業中發揮著至關 重要的作用。
FT230 XRF鍍層分析儀專用于滿足鍍層行業的特殊需求。FT230通過整合全新的軟件界面、用戶體驗功能以及高端分析組件，可以更簡便地測試更多數量的樣品，從而使操作員有時間在測量XRF的同時，執行其他工作。FT230配備四種新的關鍵功能，可助力更快完成鍍層分析：
生產過程中顆粒的污染給電池制造商帶來了諸多挑戰。不同大小和組成的顆粒會沉積在電池內部，導致短路、過熱、性能下降和電池壽命縮短。在電池生產過程中，快速準確地識別可能造成損害的顆粒對于實現快速可靠的質量控制至關重要。利用光學顯微鏡的清潔度分析解決方案可用于高效且具有成本效益的電池顆粒檢測和分析。為了更好地了解顆粒可能造成損害的潛力，結合光學顯微鏡與LIBS的“二合一”解決方案，對顆粒進行同時的視覺和化學評估，將是一個優勢。
